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新型铁系电陶瓷原料介质的效能探究

放大字体  缩小字体        中国有色金属网       发布日期:2013-06-19   浏览次数:62

核心提示:1为了得到介电性能更优异的陶瓷电容器材料,本文选择PMN-PT-BT(即Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3-BaTiO3)三元系统,并对其掺杂改性

1为了得到介电性能更优异的陶瓷电容器材料,本文选择PMN-PT-BT(即Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3-BaTiO3)三元系统,并对其掺杂改性。PMN-PT-BT系统的选择依据:PT是已知的居里点移动剂;BT在PMN中是一种很好的钙钛矿结构稳定剂。
  2实验
  2.1试样制备
  本文采用SwartZ和Shrout提出的二次预合成法,合成PMN-PT-BT体系,其依据是:用传统氧化物混合法制备,常常伴有恶化介电性能的焦绿石相产生,无法制得纯钙钛矿相结构的PMN-PT-BT陶瓷,而采用二次预合成法可以有效的抑制焦绿石相的产生。在改变PT和BT用量上的最初研究显示0.9875[0.910PMN0.090PT]0.0125BT在整个系列中具有最好的介电特性。
  钙钛矿相结构的PMN-PT-BT陶瓷,而采用二次预合成法可以有效的抑制焦绿石相的产生。在改变PT和BT用量上的,预合成MgNb2O6,再加入PbO、TiO2、BaCO3、掺杂物(各物质按照0.9875[0.910PMN0.090PT]0.0125BT进行化学配比,掺杂物另算),在800下保温3h,生成PMN-PT-BT体系,经球磨烘干后,均匀的加入10PVA作为粘合剂,以15MPa的压力压制成直径为17mm,厚度约为3mm的坯体,以300/h的速度升温,烧结温度为11001250,保温22.5h.测试前表面抛光,上银电极(电极烧渗温度550)。
  2.2性能测试用TH2613A型电容在1kHz下高压陶瓷密封环电容器材料的电容量C,然后根据r=14.4Ch/d2(h为陶瓷片的厚度,d为直径)求出其介电常数r,并测量了介电常数r随温度的变化情况。介质损耗tg用TH2613A型电容测量仪直接测定。耐压Eb=击穿电压V(kV)/陶瓷片厚度h(mm),电压源用CH型(量程10kV)、CH(量程20kV)型直流高压源。
  3结果与分析3.1添加MgO和SrTiO3对介电常数的影响烧结前在PMN-PT-BT系统中添加MgO,可以彻底的改善钙钛矿结构的形成,因为Mg2 游离在体系中,可以使焦绿石相转变成钙钛矿结构。随着MgO含量的增加,使PMN-PT-BT瓷体的居里峰宽化,向低温方向移动,弥散性增强,并且曲线越来越平滑,介电常数温度稳定性提高,是由于MgO的加入可以更好的改变瓷体钙钛矿结构,但是介电常数降低。
  这时候瓷体的烧结温度较高,在1250左右才能成瓷。为了使介电常数不至于过小,且具有较高的耐压强度,故先添加10wt的MgO,再添加一定量的SrTiO3,得到如图的介温曲线。
  SrTiO3的加入更加明显地展宽了居里峰,并向低温方向移动,弥散程度大大增加,介温稳定性大幅度提高。加入7wt的SrTiO3,已经趋近直线了。
  相对Pb(Mg1/3Nb2/3)O3的居里温度TC=12,SrTiO3的居里温度TC=250,在常温下为顺电相,将其掺入到系统中,可以增加系统非铁电相的比率,这样就可以使系统的相变扩张更加明显,弥散程度增加,将介电峰进一步的压平,降低了C/C值。当加入3wtSrTiO3时,曲线就比较平滑了,温度稳定性较好,其C/C(30 80)15.但介电常数显著降低。当加入7wt的SrTiO3时,介温曲线几乎成一条直线,但常温下介电常数却不到2000.此外,加入SrTiO3后,可以降低烧结温度,在1100以下就可以成瓷。
  3.2添加MgO和SrTiO3对耐压能力的影响
  样品置于三甲基硅油中测试的瓷体击穿场强变化曲线,均在常温下测试(25左右)。影响样本击穿因素是多方面的,工艺的影响很直接,下述测试均是在相同工艺条件及环境下进行的。可以看出,随着MgO含量的增加,瓷体的击穿电压出现先升高后降低的变化趋势,峰值所对应的MgO含量为12.5wt,峰值处的击穿场强大约为5900V/mm.向添加有10wtMgO的体系中添加SrTiO3,得到瓷体击穿场强的变化曲线。
  在添加10wt的MgO后,再添加一定量的SrTiO3,击穿场强在4600V/mm3含量的变化曲线4700V/mm间波动。而只添加10wt的MgO为4700V/mm左右,添加SrTiO3对提高瓷体击穿场强没有明显的帮助。
  由于样品的击穿主要发生在电极的边缘,为了降低此边缘效应,进一步提高击穿场强,在样品边缘涂上绝缘漆。在添加10wtMgO的系统中加入3wtSrTiO3,涂上绝缘漆后,其击穿场强可以达到6.2kV/mm.
  3.3添加MgO和SrTiO3对介电损耗的影响MgO的添加,损耗有所减小,但不明显,曲线平滑。而再加入少量的SrTiO3降低了其烧结温度,在1100下烧结就可以成瓷(未加入SrTiO3,烧结温度是1250左右),使PbO挥发相对较少,晶胞中出现的铅缺位相对较少,使电畴运动较为困难。由于畴壁运动相对困难,必然引起内部损耗相对减小。加入3wt左右的SrTiO3,瓷体损耗已经处在10-4数量级了。
  通过以上的实验得出,先添加10wt的MgO,再添加3wt的SrTiO3所得到的瓷体性能比较优良,在1100以下就可以成瓷,=5650
  4结论
  4.1随着MgO含量的增加,瓷体的介电常数下降,居里峰宽化,向低温方向移动,弥散性增强,击穿场强呈现先增加后减小的变化过程。在MgO含量为12.5时,击穿场强达到最大值5900V/mm.
  4.2在添加10wt的MgO后,随着SrTiO3的含量的增加,介电常数进一步下降,居里峰更加展宽,明显向低温方向移动,弥散程度大大增加,介温稳定性增加。
  4.3SrTiO3的加入可以降低瓷体的烧结温度,使瓷体在1100以下成瓷,同时降低瓷体介电损耗,但对提高耐压能力没有明显帮助。
 
 
 
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