(一)、原理:
手持式荧光光谱仪是一种XRF光谱分析技术,X光管产生的X射线打到被测样品时可以激发样品中对应元素原子的内层电子,并出现壳层空穴,此时原子处于不稳定状态,当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时,就会产生特征X射线,原子恢复稳态。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。
(二)、特点
1.速度快,操作简单 ,“开机启动—瞄准测试—察看结果”,整个分析过程仅需数秒便可完成,合 号鉴别只需1~2秒钟,操作简单,即使非技术人员也可轻松掌握 。
2.采用X射线荧光光谱,可方便、快速、准确、完全无损地测量材料中从Mg到U之间的所有元素,同时显示标准偏差。对合 号的鉴定不超过3秒,对合金成分分析不超过10秒。
3.多元素定性/定量分析,可以对样品中多种元素同时进行定性定量分析,对样品无要求,可分析固体,粉末,液体各种形态的样品。针对合金样品可达到接近实验室级的分析水平,可直观显示合 号和元素百分比含量(某些元素可显示到小数点后三位)及ppm含量。
4.全球 的基本参数法(FP)分析软件,针对所有合金材料实现完全盲测。具有合 号鉴别与成分分析功能、标识匹配鉴别功能等多种测试功能,满足客户不同需求。
5.所测元素分析范围为:检测下限~100%,不分基体一键测试;机内自动存储10000个以上的分析数据及谱图,配备高温测试配件,可对温度可达430℃的高温样品进行检测。
6.具有机内自动诊断和故障报告功能,同时能实现机内自校准,无需外部标样。具有USB口、蓝牙、数据线等直接进行数据传输。
7.被测样品的尺寸:线材直径1mm以上、小口径管材外径2mm以上。材料(表面)状态是平面、曲面、粗糙表面、粉末、粘土状等都可以准确测量。